abell is important ..
[lectures/latex.git] / bibdb / bibdb.bib
index 56041df..437f23b 100644 (file)
   notes =        "derivation of albe bond order formalism",
 }
 
+@Article{newman65,
+  title =        "Vibrational absorption of carbon in silicon",
+  journal =      "Journal of Physics and Chemistry of Solids",
+  volume =       "26",
+  number =       "2",
+  pages =        "373--379",
+  year =         "1965",
+  note =         "",
+  ISSN =         "0022-3697",
+  doi =          "DOI: 10.1016/0022-3697(65)90166-6",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TXR-46RVGM8-1C/2/d50c4df37065a75517d63a04af18d667",
+  author =       "R. C. Newman and J. B. Willis",
+  notes =        "c impurity dissolved as substitutional c in si",
+}
+
+@Article{baker68,
+  author =       "J. A. Baker and T. N. Tucker and N. E. Moyer and R. C.
+                 Buschert",
+  collaboration = "",
+  title =        "Effect of Carbon on the Lattice Parameter of Silicon",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1968",
+  journal =      "Journal of Applied Physics",
+  volume =       "39",
+  number =       "9",
+  pages =        "4365--4368",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?JAP/39/4365/1",
+  doi =          "10.1063/1.1656977",
+  notes =        "lattice contraction due to subst c",
+}
+
 @Article{bean71,
   title =        "The solubility of carbon in pulled silicon crystals",
   journal =      "Journal of Physics and Chemistry of Solids",
   pages =        "827--835",
   month =        mar,
   year =         "2003",
+  URL =          "http://www.springerlink.com/content/jr8xj33mqc5vpwwj/",
   notes =        "dual implantation, sic prec enhanced by vacancies,
                  precipitation by interstitial and substitutional
                  carbon, both mechanisms explained + refs",
   author =       "A. R. Bean and R. C. Newman",
 }
 
+@Article{durand99,
+  author =       "F. Durand and J. Duby",
+  affiliation =  "EPM-Madylam, CNRS and INP Grenoble, France",
+  title =        "Carbon solubility in solid and liquid silicon—{A}
+                 review with reference to eutectic equilibrium",
+  journal =      "Journal of Phase Equilibria",
+  publisher =    "Springer New York",
+  ISSN =         "1054-9714",
+  keyword =      "Chemistry and Materials Science",
+  pages =        "61--63",
+  volume =       "20",
+  issue =        "1",
+  URL =          "http://dx.doi.org/10.1361/105497199770335956",
+  note =         "10.1361/105497199770335956",
+  year =         "1999",
+  notes =        "better c solubility limit in silicon",
+}
+
 @Article{watkins76,
   title =        "{EPR} Observation of the Isolated Interstitial Carbon
                  Atom in Silicon",
                  silicon",
 }
 
+@Article{isomae93,
+  author =       "Seiichi Isomae and Tsutomu Ishiba and Toshio Ando and
+                 Masao Tamura",
+  collaboration = "",
+  title =        "Annealing behavior of Me{V} implanted carbon in
+                 silicon",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1993",
+  journal =      "Journal of Applied Physics",
+  volume =       "74",
+  number =       "6",
+  pages =        "3815--3820",
+  keywords =     "SILICON; ION IMPLANTATION; WAFERS; CARBON IONS; MEV
+                 RANGE 0110; TEM; SIMS; INFRARED SPECTRA; STRAINS; DEPTH
+                 PROFILES",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?JAP/74/3815/1",
+  doi =          "10.1063/1.354474",
+  notes =        "c at interstitial location for rt implantation in si",
+}
+
 @Article{strane96,
   title =        "Carbon incorporation into Si at high concentrations by
                  ion implantation and solid phase epitaxy",
                  stress, avoid sic precipitation",
 }
 
+@Article{foell77,
+  title =        "The formation of swirl defects in silicon by
+                 agglomeration of self-interstitials",
+  journal =      "Journal of Crystal Growth",
+  volume =       "40",
+  number =       "1",
+  pages =        "90--108",
+  year =         "1977",
+  note =         "",
+  ISSN =         "0022-0248",
+  doi =          "DOI: 10.1016/0022-0248(77)90034-3",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TJ6-46BWB4Y-44/2/bddfd69e99369473feebcdc41692dddb",
+  author =       "H. Föll and U. Gösele and B. O. Kolbesen",
+  notes =        "b-swirl: si + c interstitial agglomerates, c-si
+                 agglomerate",
+}
+
+@Article{foell81,
+  title =        "Microdefects in silicon and their relation to point
+                 defects",
+  journal =      "Journal of Crystal Growth",
+  volume =       "52",
+  number =       "Part 2",
+  pages =        "907--916",
+  year =         "1981",
+  note =         "",
+  ISSN =         "0022-0248",
+  doi =          "DOI: 10.1016/0022-0248(81)90397-3",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TJ6-46MD42X-90/2/a482c31bf9e2faeed71b7109be601078",
+  author =       "H. Föll and U. Gösele and B. O. Kolbesen",
+  notes =        "swirl review",
+}
+
 @Article{werner97,
   author =       "P. Werner and S. Eichler and G. Mariani and R.
                  K{\"{o}}gler and W. Skorupa",
   notes =        "c diffusion in si, kick out mechnism",
 }
 
+@Article{kalejs84,
+  author =       "J. P. Kalejs and L. A. Ladd and U. G{\"{o}}sele",
+  collaboration = "",
+  title =        "Self-interstitial enhanced carbon diffusion in
+                 silicon",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1984",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "45",
+  number =       "3",
+  pages =        "268--269",
+  keywords =     "PHOSPHORUS; INTERSTITIALS; SILICON; PHOSPHORUS;
+                 CARBON; DIFFUSION; ANNEALING; ATOM TRANSPORT; VERY HIGH
+                 TEMPERATURE; IMPURITIES",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/45/268/1",
+  doi =          "10.1063/1.95167",
+  notes =        "c diffusion due to si self-interstitials",
+}
+
+@Article{fukami90,
+  author =       "Akira Fukami and Ken-ichi Shoji and Takahiro Nagano
+                 and Cary Y. Yang",
+  collaboration = "",
+  title =        "Characterization of SiGe/Si heterostructures formed by
+                 Ge[sup + ] and {C}[sup + ] implantation",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1990",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "57",
+  number =       "22",
+  pages =        "2345--2347",
+  keywords =     "HETEROJUNCTIONS; ION IMPLANTATION; HETEROSTRUCTURES;
+                 FABRICATION; PN JUNCTIONS; LEAKAGE CURRENT; GERMANIUM
+                 SILICIDES; SILICON; ELECTRICAL PROPERTIES; SOLIDPHASE
+                 EPITAXY; CARBON IONS; GERMANIUM IONS",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/57/2345/1",
+  doi =          "10.1063/1.103888",
+}
+
+@Article{strane93,
+  author =       "J. W. Strane and H. J. Stein and S. R. Lee and B. L.
+                 Doyle and S. T. Picraux and J. W. Mayer",
+  collaboration = "",
+  title =        "Metastable SiGe{C} formation by solid phase epitaxy",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1993",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "63",
+  number =       "20",
+  pages =        "2786--2788",
+  keywords =     "SILICON CARBIDES; GERMANIUM CARBIDES; TERNARY ALLOY
+                 SYSTEMS; EPITAXY; ION IMPLANTATION; METASTABLE STATES;
+                 ANNEALING; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; RUTHERFORD
+                 SCATTERING; XRAY DIFFRACTION; STRAINS; SOLIDPHASE
+                 EPITAXY; AMORPHIZATION",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/63/2786/1",
+  doi =          "10.1063/1.110334",
+}
+
+@article{goorsky92,
+author = {M. S. Goorsky and S. S. Iyer and K. Eberl and F. Legoues and J. Angilello and F. Cardone},
+collaboration = {},
+title = {Thermal stability of Si[sub 1 - x]C[sub x]/Si strained layer superlattices},
+publisher = {AIP},
+year = {1992},
+journal = {Applied Physics Letters},
+volume = {60},
+number = {22},
+pages = {2758-2760},
+keywords = {SILICON ALLOYS; CARBON ALLOYS; BINARY ALLOYS; MOLECULAR BEAM EPITAXY; SUPERLATTICES; ANNEALING; CHEMICAL COMPOSITION; INTERNAL STRAINS; STRESS RELAXATION; THERMAL INSTABILITIES; INTERFACE STRUCTURE; DIFFUSION; PRECIPITATION; TEMPERATURE EFFECTS},
+url = {http://link.aip.org/link/?APL/60/2758/1},
+doi = {10.1063/1.106868}
+}
+
 @Article{strane94,
   author =       "J. W. Strane and H. J. Stein and S. R. Lee and S. T.
                  Picraux and J. K. Watanabe and J. W. Mayer",
   doi =          "10.1557/PROC-354-171",
   URL =          "http://dx.doi.org/10.1557/PROC-354-171",
   eprint =       "http://journals.cambridge.org/article_S1946427400420853",
+  notes =        "first time ibs at moderate temperatures",
+}
+
+@Article{lindner96,
+  title =        "Formation of buried epitaxial silicon carbide layers
+                 in silicon by ion beam synthesis",
+  journal =      "Materials Chemistry and Physics",
+  volume =       "46",
+  number =       "2-3",
+  pages =        "147--155",
+  year =         "1996",
+  note =         "",
+  ISSN =         "0254-0584",
+  doi =          "DOI: 10.1016/S0254-0584(97)80008-9",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TX4-3VSGY9S-8/2/f001f23c0b3bc0fc3fc683616588fbc7",
+  author =       "J. K. N. Lindner and K. Volz and U. Preckwinkel and B.
+                 Götz and A. Frohnwieser and B. Rauschenbach and B.
+                 Stritzker",
+  notes =        "dose window",
+}
+
+@Article{calcagno96,
+  title =        "Carbon clustering in Si[sub 1-x]{C}[sub x] formed by
+                 ion implantation",
+  journal =      "Nuclear Instruments and Methods in Physics Research
+                 Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms",
+  volume =       "120",
+  number =       "1-4",
+  pages =        "121--124",
+  year =         "1996",
+  note =         "Proceedings of the E-MRS '96 Spring Meeting Symp. I on
+                 New Trends in Ion Beam Processing of Materials",
+  ISSN =         "0168-583X",
+  doi =          "DOI: 10.1016/S0168-583X(96)00492-2",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TJN-3VSHB0W-1S/2/164b9f4f972a02f44b341b0de28bba1d",
+  author =       "L. Calcagno and G. Compagnini and G. Foti and M. G.
+                 Grimaldi and P. Musumeci",
+  notes =        "dose window, graphitic bonds",
+}
+
+@Article{lindner98,
+  title =        "Mechanisms of Si{C} Formation in the Ion Beam
+                 Synthesis of 3{C}-Si{C} Layers in Silicon",
+  journal =      "Materials Science Forum",
+  volume =       "264-268",
+  pages =        "215--218",
+  year =         "1998",
+  note =         "",
+  doi =          "10.4028/www.scientific.net/MSF.264-268.215",
+  URL =          "http://www.scientific.net/MSF.264-268.215",
+  author =       "J. K. N. Lindner and W. Reiber and B. Stritzker",
+  notes =        "intermediate temperature for sharp interface + good
+                 crystallinity",
 }
 
 @Article{lindner99,
   doi =          "10.1063/1.1730376",
 }
 
+@Article{abell85,
+  title = {Empirical chemical pseudopotential theory of molecular and metallic bonding},
+  author = {Abell, G. C.},
+  journal = {Phys. Rev. B},
+  volume = {31},
+  number = {10},
+  pages = {6184--6196},
+  numpages = {12},
+  year = {1985},
+  month = {May},
+  doi = {10.1103/PhysRevB.31.6184},
+  publisher = {American Physical Society}
+}
+
 @Article{tersoff_si1,
   title =        "New empirical model for the structural properties of
                  silicon",
   pages =        "71--81",
   URL =          "http://www.informaworld.com/10.1080/00337578608209614",
   notes =        "ibs, comparison with sio and sin, higher temp or
-                 time",
+                 time, no c redistribution",
 }
 
 @Article{reeson87,
   notes =        "solubility of c in c-si, si-c phase diagram",
 }
 
+@Article{hofker74,
+  author =       "W. Hofker and H. Werner and D. Oosthoek and N.
+                 Koeman",
+  affiliation =  "N. V. Philips' Gloeilampenfabrieken Philips Research
+                 Laboratories Eindhoven Netherlands Eindhoven
+                 Netherlands",
+  title =        "Boron implantations in silicon: {A} comparison of
+                 charge carrier and boron concentration profiles",
+  journal =      "Applied Physics A: Materials Science \& Processing",
+  publisher =    "Springer Berlin / Heidelberg",
+  ISSN =         "0947-8396",
+  keyword =      "Physics and Astronomy",
+  pages =        "125--133",
+  volume =       "4",
+  issue =        "2",
+  URL =          "http://dx.doi.org/10.1007/BF00884267",
+  note =         "10.1007/BF00884267",
+  year =         "1974",
+  notes =        "first time ted (only for boron?)",
+}
+
+@Article{michel87,
+  author =       "A. E. Michel and W. Rausch and P. A. Ronsheim and R.
+                 H. Kastl",
+  collaboration = "",
+  title =        "Rapid annealing and the anomalous diffusion of ion
+                 implanted boron into silicon",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1987",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "50",
+  number =       "7",
+  pages =        "416--418",
+  keywords =     "SILICON; ION IMPLANTATION; ANNEALING; DIFFUSION;
+                 BORON; ATOM TRANSPORT; CHARGEDPARTICLE TRANSPORT; VERY
+                 HIGH TEMPERATURE; PN JUNCTIONS; SURFACE CONDUCTIVITY",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/50/416/1",
+  doi =          "10.1063/1.98160",
+  notes =        "ted of boron in si",
+}
+
+@Article{cowern90,
+  author =       "N. E. B. Cowern and K. T. F. Janssen and H. F. F.
+                 Jos",
+  collaboration = "",
+  title =        "Transient diffusion of ion-implanted {B} in Si: Dose,
+                 time, and matrix dependence of atomic and electrical
+                 profiles",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1990",
+  journal =      "Journal of Applied Physics",
+  volume =       "68",
+  number =       "12",
+  pages =        "6191--6198",
+  keywords =     "BORON IONS; ION IMPLANTATION; SILICON; DIFFUSION; TIME
+                 DEPENDENCE; ANNEALING; VERY HIGH TEMPERATURE; SIMS;
+                 CRYSTALS; AMORPHIZATION",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?JAP/68/6191/1",
+  doi =          "10.1063/1.346910",
+  notes =        "ted of boron in si",
+}
+
 @Article{cowern96,
   author =       "N. E. B. Cowern and A. Cacciato and J. S. Custer and
                  F. W. Saris and W. Vandervorst",
                  quasi-direct one",
 }
 
+@Article{eberl92,
+  author =       "K. Eberl and S. S. Iyer and S. Zollner and J. C. Tsang
+                 and F. K. LeGoues",
+  collaboration = "",
+  title =        "Growth and strain compensation effects in the ternary
+                 Si[sub 1 - x - y]Ge[sub x]{C}[sub y] alloy system",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1992",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "60",
+  number =       "24",
+  pages =        "3033--3035",
+  keywords =     "SILICON ALLOYS; GERMANIUM ALLOYS; CARBON ALLOYS;
+                 TERNARY ALLOYS; SEMICONDUCTOR ALLOYS; MOLECULAR BEAM
+                 EPITAXY; INTERNAL STRAINS; TEMPERATURE EFFECTS; CRYSTAL
+                 STRUCTURE; LATTICE PARAMETERS; XRAY DIFFRACTION; PHASE
+                 STUDIES",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/60/3033/1",
+  doi =          "10.1063/1.106774",
+}
+
+@Article{powell93,
+  author =       "A. R. Powell and K. Eberl and F. E. LeGoues and B. A.
+                 Ek and S. S. Iyer",
+  collaboration = "",
+  title =        "Stability of strained Si[sub 1 - y]{C}[sub y] random
+                 alloy layers",
+  publisher =    "AVS",
+  year =         "1993",
+  journal =      "J. Vac. Sci. Technol. B",
+  volume =       "11",
+  number =       "3",
+  pages =        "1064--1068",
+  location =     "Ottawa (Canada)",
+  keywords =     "SILICON ALLOYS; CARBON ALLOYS; STRAINS; THICKNESS;
+                 METASTABLE PHASES; TWINNING; DISLOCATIONS; MOLECULAR
+                 BEAM EPITAXY; EPITAXIAL LAYERS; CRITICAL PHENOMENA;
+                 TEMPERATURE RANGE 400--1000 K; BINARY ALLOYS",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?JVB/11/1064/1",
+  doi =          "10.1116/1.587008",
+  notes =        "substitutional c in si by mbe",
+}
+
+@Article{powell93_2,
+  title =        "Si[sub 1-x-y]Ge[sub x]{C}[sub y] growth and properties
+                 of the ternary system",
+  journal =      "Journal of Crystal Growth",
+  volume =       "127",
+  number =       "1-4",
+  pages =        "425--429",
+  year =         "1993",
+  note =         "",
+  ISSN =         "0022-0248",
+  doi =          "DOI: 10.1016/0022-0248(93)90653-E",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TJ6-46J3RF2-8H/2/27fc231f28e4dc0a3b4770e5cf03257e",
+  author =       "A. R. Powell and K. Eberl and B. A. Ek and S. S.
+                 Iyer",
+}
+
+@Article{osten94,
+  author =       "H. J. Osten",
+  title =        "Modification of Growth Modes in Lattice-Mismatched
+                 Epitaxial Systems: Si/Ge",
+  journal =      "physica status solidi (a)",
+  volume =       "145",
+  number =       "2",
+  publisher =    "WILEY-VCH Verlag",
+  ISSN =         "1521-396X",
+  URL =          "http://dx.doi.org/10.1002/pssa.2211450203",
+  doi =          "10.1002/pssa.2211450203",
+  pages =        "235--245",
+  year =         "1994",
+}
+
+@Article{dietrich94,
+  title =        "Lattice distortion in a strain-compensated
+                 $Si_{1-x-y}$$Ge_{x}$${C}_{y}$ layer on silicon",
+  author =       "B. Dietrich and H. J. Osten and H. R{\"u}cker and M.
+                 Methfessel and P. Zaumseil",
+  journal =      "Phys. Rev. B",
+  volume =       "49",
+  number =       "24",
+  pages =        "17185--17190",
+  numpages =     "5",
+  year =         "1994",
+  month =        jun,
+  doi =          "10.1103/PhysRevB.49.17185",
+  publisher =    "American Physical Society",
+}
+
+@Article{osten94_2,
+  author =       "H. J. Osten and E. Bugiel and P. Zaumseil",
+  collaboration = "",
+  title =        "Growth of an inverse tetragonal distorted SiGe layer
+                 on Si(001) by adding small amounts of carbon",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1994",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "64",
+  number =       "25",
+  pages =        "3440--3442",
+  keywords =     "SILICON ALLOYS; GERMANIUM ALLOYS; FILM GROWTH; CARBON
+                 ALLOYS; TERNARY ALLOYS; MOLECULAR BEAM EPITAXY; TEM;
+                 XRD; LATTICE PARAMETERS; EPITAXIAL LAYERS; TETRAGONAL
+                 LATTICES",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/64/3440/1",
+  doi =          "10.1063/1.111235",
+  notes =        "inversely strained / distorted heterostructure",
+}
+
+@Article{iyer92,
+  author =       "S. S. Iyer and K. Eberl and M. S. Goorsky and F. K.
+                 LeGoues and J. C. Tsang and F. Cardone",
+  collaboration = "",
+  title =        "Synthesis of Si[sub 1 - y]{C}[sub y] alloys by
+                 molecular beam epitaxy",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1992",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "60",
+  number =       "3",
+  pages =        "356--358",
+  keywords =     "SILICON ALLOYS; CARBON ALLOYS; BINARY ALLOYS;
+                 SEMICONDUCTOR ALLOYS; SUPERLATTICES; MOLECULAR BEAM
+                 EPITAXY; CHEMICAL COMPOSITION; TEMPERATURE EFFECTS;
+                 FILM GROWTH; MICROSTRUCTURE",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/60/356/1",
+  doi =          "10.1063/1.106655",
+}
+
 @Article{osten99,
   author =       "H. J. Osten and J. Griesche and S. Scalese",
   collaboration = "",
                  compounds",
   URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/74/836/1",
   doi =          "10.1063/1.123384",
-  notes =        "substitutional c in si",
+  notes =        "substitutional c in si by mbe",
 }
 
 @Article{hohenberg64,
                  si, dft",
 }
 
+@Article{yagi02,
+  title =        "Phosphorous Doping of Strain-Induced
+                 Si$_{1-y}${C}$_{y}$ Epitaxial Films Grown\\
+                 by Low-Temperature Chemical Vapor Deposition",
+  author =       "Shuhei Yagi and Katsuya Abe and Takashi Okabayashi and
+                 Yuichi Yoneyama and Akira Yamada and Makoto Konagai",
+  journal =      "Japanese Journal of Applied Physics",
+  volume =       "41",
+  number =       "Part 1, No. 4B",
+  pages =        "2472--2475",
+  numpages =     "3",
+  year =         "2002",
+  URL =          "http://jjap.jsap.jp/link?JJAP/41/2472/",
+  doi =          "10.1143/JJAP.41.2472",
+  publisher =    "The Japan Society of Applied Physics",
+  notes =        "experimental charge carrier mobility in strained si",
+}
+
 @Article{chang05,
   title =        "Electron Transport Model for Strained Silicon-Carbon
                  Alloy",
   URL =          "http://jjap.ipap.jp/link?JJAP/44/2257/",
   doi =          "10.1143/JJAP.44.2257",
   publisher =    "The Japan Society of Applied Physics",
-  notes =        "enhance of electron mobility in starined si",
+  notes =        "enhance of electron mobility in strained si",
+}
+
+@Article{kissinger94,
+  author =       "W. Kissinger and M. Weidner and H. J. Osten and M.
+                 Eichler",
+  collaboration = "",
+  title =        "Optical transitions in strained Si[sub 1 - y]{C}[sub
+                 y] layers on Si(001)",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1994",
+  journal =      "Applied Physics Letters",
+  volume =       "65",
+  number =       "26",
+  pages =        "3356--3358",
+  keywords =     "SILICON CARBIDES; INTERNAL STRAINS; EPITAXIAL LAYERS;
+                 CHEMICAL COMPOSITION; ELLIPSOMETRY; REFLECTION
+                 SPECTROSCOPY; ELECTROOPTICAL EFFECTS; BAND STRUCTURE;
+                 ENERGY LEVELS; ENERGYLEVEL TRANSITIONS",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?APL/65/3356/1",
+  doi =          "10.1063/1.112390",
+  notes =        "strained si influence on optical properties",
+}
+
+@Article{osten96,
+  author =       "H. J. Osten and Myeongcheol Kim and K. Pressel and P.
+                 Zaumseil",
+  collaboration = "",
+  title =        "Substitutional versus interstitial carbon
+                 incorporation during pseudomorphic growth of Si[sub 1 -
+                 y]{C}[sub y] on Si(001)",
+  publisher =    "AIP",
+  year =         "1996",
+  journal =      "Journal of Applied Physics",
+  volume =       "80",
+  number =       "12",
+  pages =        "6711--6715",
+  keywords =     "SILICON CARBIDES; CRYSTAL DEFECTS; FILM GROWTH;
+                 MOLECULAR BEAM EPITAXY; INTERSTITIALS; SUBSTITUTION;
+                 XRD; STRAINS",
+  URL =          "http://link.aip.org/link/?JAP/80/6711/1",
+  doi =          "10.1063/1.363797",
+  notes =        "mbe substitutional vs interstitial c incorporation",
 }
 
 @Article{osten97,
   eprint =       "http://journals.cambridge.org/article_S194642740054367X",
 }
 
+@Article{newman61,
+  title =        "The diffusivity of carbon in silicon",
+  journal =      "Journal of Physics and Chemistry of Solids",
+  volume =       "19",
+  number =       "3-4",
+  pages =        "230--234",
+  year =         "1961",
+  note =         "",
+  ISSN =         "0022-3697",
+  doi =          "DOI: 10.1016/0022-3697(61)90032-4",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TXR-46M72R1-4D/2/9235472e4c0a95bf7b995769474f5fbd",
+  author =       "R. C. Newman and J. Wakefield",
+  notes =        "diffusivity of substitutional c in si",
+}
+
 @Article{goesele85,
   author =       "U. Gösele",
   title =        "The Role of Carbon and Point Defects in Silicon",
   eprint =       "http://journals.cambridge.org/article_S1946427400543681",
 }
 
+@Article{mukashev82,
+  title =        "Defects in Carbon-Implanted Silicon",
+  author =       "Bulat N. Mukashev and Alexey V. Spitsyn and Noboru
+                 Fukuoka and Haruo Saito",
+  journal =      "Japanese Journal of Applied Physics",
+  volume =       "21",
+  number =       "Part 1, No. 2",
+  pages =        "399--400",
+  numpages =     "1",
+  year =         "1982",
+  URL =          "http://jjap.jsap.jp/link?JJAP/21/399/",
+  doi =          "10.1143/JJAP.21.399",
+  publisher =    "The Japan Society of Applied Physics",
+}
+
 @Article{puska98,
   title =        "Convergence of supercell calculations for point
                  defects in semiconductors: Vacancy in silicon",
   doi =          "10.1063/1.358714",
 }
 
+@Article{romano-rodriguez96,
+  title =        "Detailed analysis of [beta]-Si{C} formation by high
+                 dose carbon ion implantation in silicon",
+  journal =      "Materials Science and Engineering B",
+  volume =       "36",
+  number =       "1-3",
+  pages =        "282--285",
+  year =         "1996",
+  note =         "European Materials Research Society 1995 Spring
+                 Meeting, Symposium N: Carbon, Hydrogen, Nitrogen, and
+                 Oxygen in Silicon and in Other Elemental
+                 Semiconductors",
+  ISSN =         "0921-5107",
+  doi =          "DOI: 10.1016/0921-5107(95)01283-4",
+  URL =          "http://www.sciencedirect.com/science/article/B6TXF-3VR7691-25/2/995fd57b9e5c1100558f80c472620408",
+  author =       "A. Romano-Rodriguez and C. Serre and L. Calvo-Barrio
+                 and A. Pérez-Rodríguez and J. R. Morante and R. Kögler
+                 and W. Skorupa",
+  keywords =     "Silicon",
+  keywords =     "Ion implantation",
+  notes =        "incoherent 3c-sic precipitate",
+}