finished polytypes slide
[lectures/latex.git] / posic / talks / ueberblick_0609.tex
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48
49 \begin{document}
50
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77
78 % topic
79
80 \begin{slide}
81 \begin{center}
82
83  \vspace{16pt}
84
85  {\LARGE\bf
86   Molekulardynamische Untersuchung\\
87   zum SiC-Ausscheidungsvorgang
88  }
89
90  \vspace{48pt}
91
92  \textsc{F. Zirkelbach}
93
94  \vspace{48pt}
95
96  "Uberblick 
97
98  \vspace{08pt}
99
100  Juni 2009
101
102 \end{center}
103 \end{slide}
104
105 % start of contents
106
107 \begin{slide}
108
109  {\large\bf
110   Vergrabene epitaktisch orientierte 3C-SiC Ausscheidungen durch
111   Ionenstrahlsynthese
112  }
113
114  {\small
115
116  \begin{itemize}
117   \item Implantation 1:
118         180 keV C$^+\rightarrow$ FZ-Si(100),
119         $D=7.9 \times 10^{17}$ cm$^{-2}$,
120         $T_{\text{i}}=500 \, ^{\circ} \text{C}$\\
121         epitaktisch orientierte 3C-SiC Ausscheidungen
122         in kastenf"ormigen Bereich,\\
123         eingeschlossen in a-Si:C 
124   \item Implantation 2:
125         180 keV C$^+\rightarrow$ FZ-Si(100),
126         $D=0.6 \times 10^{17}$ cm$^{-2}$,
127         $T_{\text{i}}=250 \, ^{\circ} \text{C}$\\
128         Zerst"orung einzelner SiC Ausscheidungen
129         in gr"o"ser werdenden amorphen Grenzschichten 
130   \item Tempern:
131         $T=1250 \, ^{\circ} \text{C}$, $t=10\text{ h}$\\
132         Homogene st"ochiometrische 3C-SiC Schicht mit
133         scharfen Grenzfl"achen
134  \end{itemize}
135  
136  \begin{minipage}{6.3cm}
137  \includegraphics[width=6.3cm]{ibs_3c-sic.eps}
138  \end{minipage}
139  \hspace*{0.2cm}
140  \begin{minipage}{6.5cm}
141  \vspace*{2.3cm}
142  {\scriptsize
143  Querschnitts-TEM-Aufnahme einer einkristallinen vergrabenen
144  3C-SiC-Schicht.\\
145  (a) Hellfeldaufnahme\\
146  (b) 3C-SiC(111) Dunkelfeldaufnahme\\
147  }
148  \end{minipage}
149
150  \vspace{0.2cm}
151
152  Entscheidende Parameter: Dosis und Implantationstemperatur
153
154 }
155
156 \end{slide}
157
158 \begin{slide}
159
160  {\large\bf
161   SiC-Ausscheidungsvorgang
162  }
163
164  \vspace{8pt}
165
166  {\bf Kristallstruktur und Einheitszelle:}
167  \begin{itemize}
168    \item kristallines Silizium (c-Si): Diamantstruktur\\
169          ${\color{si-yellow}\bullet}$ und ${\color{gray}\bullet}$
170          $\leftarrow$ Si-Atome
171    \item kubisches SiC (3C-SiC): Zinkblende-Struktur\\
172          ${\color{si-yellow}\bullet} \leftarrow$ Si-Atome\\
173          ${\color{gray}\bullet} \leftarrow$ C-Atome
174  \end{itemize}
175  \vspace{8pt}
176  \begin{minipage}{8cm}
177  {\bf Gitterkonstanten:}
178  \[
179  4a_{\text{c-Si}}\approx5a_{\text{3C-SiC}}
180  \]
181  {\bf Siliziumdichten:}
182  \[
183  \frac{n_{\text{3C-SiC}}}{n_{\text{c-Si}}}=97,66\,\%
184  \]
185  \end{minipage}
186  \begin{minipage}{5cm}
187    \includegraphics[width=5cm]{sic_unit_cell.eps}         
188  \end{minipage}
189
190 \end{slide}
191
192 \begin{slide}
193
194  {\large\bf
195   SiC-Ausscheidungsvorgang
196  }
197
198  Hochaufl"osungs-TEM:\\[-0.5cm]
199
200  \begin{minipage}{3.3cm}
201  \includegraphics[width=3.3cm]{tem_c-si-db.eps}
202  \end{minipage}
203  \begin{minipage}{9cm}
204   Bereich oberhalb des Implantationsmaximums\\
205   Wolkenstruktur "uberlagert auf ungest"orten Si-Muster\\
206   $\rightarrow$ C-Si Dumbbells
207  \end{minipage}
208  \begin{minipage}{3.3cm}
209  \includegraphics[width=3.3cm]{tem_3c-sic.eps}
210  \end{minipage}
211  \begin{minipage}{9cm}
212   Bereich um das Implantationsmaximum\\
213   Moir\'e-Kontrast-Muster\\
214   $\rightarrow$ inkoh"arente 3C-SiC-Ausscheidungen in c-Si-Matrix
215  \end{minipage}
216
217 \end{slide}
218
219 \begin{slide}
220
221  {\large\bf
222   SiC-Ausscheidungsvorgang
223  }
224
225  \small
226
227  \vspace{6pt}
228
229  Vermuteter 3C-SiC-Ausscheidungsvorgang in c-Si:
230
231  \vspace{8pt}
232
233  \begin{minipage}{3.8cm}
234  \includegraphics[width=3.7cm]{sic_prec_seq_01.eps}
235  \end{minipage}
236  \hspace{0.6cm}
237  \begin{minipage}{3.8cm}
238  \includegraphics[width=3.7cm]{sic_prec_seq_02.eps}
239  \end{minipage}
240  \hspace{0.6cm}
241  \begin{minipage}{3.8cm}
242  \includegraphics[width=3.7cm]{sic_prec_seq_03.eps}
243  \end{minipage}
244
245  \vspace{8pt}
246
247  \begin{minipage}{3.8cm}
248  Bildung von C-Si Dumbbells auf regul"aren c-Si Gitterpl"atzen
249  \end{minipage}
250  \hspace{0.6cm}
251  \begin{minipage}{3.8cm}
252  Anh"aufung hin zu gro"sen Clustern (Embryos)\\
253  \end{minipage}
254  \hspace{0.6cm}
255  \begin{minipage}{3.8cm}
256  Ausscheidung von 3C-SiC + Erzeugung von Si-Zwischengitteratomen
257  \end{minipage}
258
259  \vspace{12pt}
260
261  Aus experimentellen Untersuchungen:
262  \begin{itemize}
263   \item kritischer Durchmesser einer Ausscheidung: 4 - 5 nm
264   \item gleiche Orientierung der c-Si and 3C-SiC (hkl)-Ebenen
265  \end{itemize}
266
267 \end{slide}
268
269 \begin{slide}
270
271  {\large\bf
272   Details der MD-Simulation
273  }
274
275  \vspace{12pt}
276  \small
277
278  {\bf MD-Grundlagen:}
279  \begin{itemize}
280   \item Mikroskopische Beschreibung eines N-Teilchensystems
281   \item Analytisches Wechselwirkungspotential
282   \item Numerische Integration der Newtonschen Bewegungsgleichung\\
283         als Propagationsvorschrift im 6N-dimensionalen Phasenraum
284   \item Observablen sind die Zeit- und/oder Ensemblemittelwerte
285  \end{itemize}
286  {\bf Details der Simulation:}
287  \begin{itemize}
288   \item Integration: Velocity Verlet, Zeitschritt: $1\text{ fs}$
289   \item Ensemble: NpT, isothermal-isobares Ensemble
290         \begin{itemize}
291          \item Berendsen Thermostat:
292                $\tau_{\text{T}}=100\text{ fs}$
293          \item Berendsen Barostat:\\
294                $\tau_{\text{P}}=100\text{ fs}$,
295                $\beta^{-1}=100\text{ GPa}$
296         \end{itemize}
297   \item Potential: Tersoff-"ahnliches 'bond order' Potential
298   \vspace*{12pt}
299         \[
300         E = \frac{1}{2} \sum_{i \neq j} \pot_{ij}, \quad
301         \pot_{ij} = f_C(r_{ij}) \left[ f_R(r_{ij}) + b_{ij} f_A(r_{ij}) \right]
302         \]
303  \end{itemize}
304
305  \begin{picture}(0,0)(-230,-30)
306   \includegraphics[width=5cm]{tersoff_angle.eps} 
307  \end{picture}
308
309 \end{slide}
310
311 \begin{slide}
312
313  {\large\bf
314   Zwischengitter-Konfigurationen
315  }
316
317  \vspace{8pt}
318
319  Simulationssequenz:\\
320
321  \vspace{8pt}
322
323  \begin{pspicture}(0,0)(7,8)
324   \rput(3.5,7){\rnode{init}{\psframebox[fillstyle=solid,fillcolor=hb]{
325    \parbox{7cm}{
326    \begin{itemize}
327     \item initiale Konfiguration:\\
328           $9\times9\times9$ Einheitszellen c-Si
329     \item periodische Randbedingungen
330     \item $T=0\text{ K}$, $p=0\text{ bar}$
331    \end{itemize}
332   }}}}
333 \rput(3.5,3.5){\rnode{insert}{\psframebox{
334  \parbox{7cm}{
335   Einf"ugen der C/Si Atome:
336   \begin{itemize}
337    \item $(0,0,0)$ $\rightarrow$ {\color{red}tetraedrisch}
338          (${\color{red}\triangleleft}$)
339    \item $(-1/8,-1/8,1/8)$ $\rightarrow$ {\color{green}hexagonal}
340          (${\color{green}\triangleright}$)
341    \item $(-1/8,-1/8,-1/4)$, $(-1/4,-1/4,-1/4)$\\
342          $\rightarrow$ {\color{magenta}110 Dumbbell}
343          (${\color{magenta}\Box}$,$\circ$)
344    \item zuf"allige Position (Minimalabstand)
345   \end{itemize}
346   }}}}
347   \rput(3.5,1){\rnode{cool}{\psframebox[fillstyle=solid,fillcolor=lbb]{
348    \parbox{3.5cm}{
349    Relaxation ($>2$ ps)
350   }}}}
351   \ncline[]{->}{init}{insert}
352   \ncline[]{->}{insert}{cool}
353  \end{pspicture}
354
355  \begin{picture}(0,0)(-210,-45)
356   \includegraphics[width=6cm]{unit_cell_s.eps}
357  \end{picture}
358
359 \end{slide}
360
361 \begin{slide}
362
363  {\large\bf
364   Zwischengitter-Konfigurationen
365  }
366
367  \small
368
369  \begin{minipage}[t]{4.3cm}
370  \underline{Tetraedrisch}\\
371  $E_f=3.41$ eV\\
372  \includegraphics[width=3.8cm]{si_self_int_tetra_0.eps}
373  \end{minipage}
374  \begin{minipage}[t]{4.3cm}
375  \underline{110 Dumbbell}\\
376  $E_f=4.39$ eV\\
377  \includegraphics[width=3.8cm]{si_self_int_dumbbell_0.eps}
378  \end{minipage}
379  \begin{minipage}[t]{4.3cm}
380  \underline{Hexagonal} \hspace{4pt}
381  \href{../video/si_self_int_hexa.avi}{$\rhd$}\\
382  $E_f^{\star}\approx4.48$ eV (nicht stabil!)\\
383  \includegraphics[width=3.8cm]{si_self_int_hexa_0.eps}
384  \end{minipage}
385
386  \underline{zuf"allige Positionen}
387
388  \begin{minipage}{4.3cm}
389  $E_f=3.97$ eV\\
390  \includegraphics[width=3.8cm]{si_self_int_rand_397_0.eps}
391  \end{minipage}
392  \begin{minipage}{4.3cm}
393  $E_f=3.75$ eV\\
394  \includegraphics[width=3.8cm]{si_self_int_rand_375_0.eps}
395  \end{minipage}
396  \begin{minipage}{4.3cm}
397  $E_f=3.56$ eV\\
398  \includegraphics[width=3.8cm]{si_self_int_rand_356_0.eps}
399  \end{minipage}
400
401 \end{slide}
402
403 \begin{slide}
404
405  {\large\bf
406   Zwischengitter-Konfigurationen
407  }
408
409  \small
410
411  \begin{minipage}[t]{4.3cm}
412  \underline{Tetraedrisch}\\
413  $E_f=2.67$ eV\\
414  \includegraphics[width=3.8cm]{c_in_si_int_tetra_0.eps}
415  \end{minipage}
416  \begin{minipage}[t]{4.3cm}
417  \underline{110 Dumbbell}\\
418  $E_f=1.76$ eV\\
419  \includegraphics[width=3.8cm]{c_in_si_int_dumbbell_0.eps}
420  \end{minipage}
421  \begin{minipage}[t]{4.3cm}
422  \underline{Hexagonal} \hspace{4pt}
423  \href{../video/c_in_si_int_hexa.avi}{$\rhd$}\\
424  $E_f^{\star}\approx5.6$ eV (nicht stabil!)\\
425  \includegraphics[width=3.8cm]{c_in_si_int_hexa_0.eps}
426  \end{minipage}
427
428  \underline{zuf"allige Positionen}
429
430  \footnotesize
431
432 \begin{minipage}[t]{3.3cm}
433    $E_f=0.47$ eV\\
434    \includegraphics[width=3.3cm]{c_in_si_int_001db_0.eps}
435    \begin{picture}(0,0)(-15,-3)
436     100 Dumbbell
437    \end{picture}
438 \end{minipage}
439 \begin{minipage}[t]{3.3cm}
440    $E_f=1.62$ eV\\
441    \includegraphics[width=3.2cm]{c_in_si_int_rand_162_0.eps}
442 \end{minipage}
443 \begin{minipage}[t]{3.3cm}
444    $E_f=2.39$ eV\\
445    \includegraphics[width=3.1cm]{c_in_si_int_rand_239_0.eps}
446 \end{minipage}
447 \begin{minipage}[t]{3.0cm}
448    $E_f=3.41$ eV\\
449    \includegraphics[width=3.3cm]{c_in_si_int_rand_341_0.eps}
450 \end{minipage}
451
452 \end{slide}
453
454 \begin{slide}
455
456  {\large\bf
457   Zwischengitter-Konfigurationen
458  }
459
460  Das 100 Dumbbell
461
462  \vspace{8pt}
463
464  \small
465
466  \begin{minipage}{5.5cm}
467  \begin{itemize}
468   \item $E_f=0.47$ eV
469   \item sehr h"aufig beobachtet
470   \item energetisch g"unstigste\\ Konfiguration
471   \item experimentelle und theoretische Hinweise
472         f"ur die Existenz dieser Konfiguration
473  \end{itemize}
474  \includegraphics[width=5.6cm]{c_in_si_100.ps}
475  \end{minipage}
476  \begin{minipage}{7cm}
477  \includegraphics[width=8cm]{100-c-si-db_s.eps}
478  \end{minipage}
479
480 \end{slide}
481
482 \begin{slide}
483
484  {\large\bf
485   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
486  }
487
488  \small
489
490  \vspace{8pt}
491
492  Simulationssequenz:\\
493
494  \vspace{8pt}
495
496  \begin{pspicture}(0,0)(12,8)
497   % nodes
498   \rput(3.5,7.0){\rnode{init}{\psframebox[fillstyle=solid,fillcolor=hb]{
499    \parbox{7cm}{
500    \begin{itemize}
501     \item initiale Konfiguration:\\
502           $31\times31\times31$ c-Si Einheitszellen
503     \item periodsche Randbedingungen
504     \item $T=450\, ^{\circ}\text{C}$, $p=0\text{ bar}$
505     \item "Aquilibrierung von $E_{\text{kin}}$ and $E_{\text{pot}}$
506    \end{itemize}
507   }}}}
508   \rput(3.5,3.2){\rnode{insert}{\psframebox[fillstyle=solid,fillcolor=lachs]{
509    \parbox{7cm}{
510    Einf"ugen von 6000 C-Atomen\\
511    bei konstanter Temperatur
512    \begin{itemize}
513     \item gesamte Simulationsvolumen {\pnode{in1}}
514     \item Volumen einer minimalen SiC-Ausscheidung {\pnode{in2}}
515     \item Bereich der ben"otigten Si-Atome {\pnode{in3}}
516    \end{itemize} 
517   }}}}
518   \rput(3.5,1){\rnode{cool}{\psframebox[fillstyle=solid,fillcolor=lbb]{
519    \parbox{5.0cm}{
520    Nach 100 ps abk"uhlen auf $20\, ^{\circ}\textrm{C}$
521   }}}}
522   \ncline[]{->}{init}{insert}
523   \ncline[]{->}{insert}{cool}
524   \psframe[fillstyle=solid,fillcolor=white](7.5,1.8)(13.5,7.8)
525   \rput(7.8,7.6){\footnotesize $V_1$}
526   \psframe[fillstyle=solid,fillcolor=lightgray](9,3.3)(12,6.3)
527   \rput(9.2,6.15){\tiny $V_2$}
528   \psframe[fillstyle=solid,fillcolor=gray](9.25,3.55)(11.75,6.05)
529   \rput(9.55,5.85){\footnotesize $V_3$}
530   \rput(7.9,4.2){\pnode{ins1}}
531   \rput(9.22,3.5){\pnode{ins2}}
532   \rput(11.0,3.8){\pnode{ins3}}
533   \ncline[]{->}{in1}{ins1}
534   \ncline[]{->}{in2}{ins2}
535   \ncline[]{->}{in3}{ins3}
536  \end{pspicture}
537
538 \end{slide}
539
540 \begin{slide}
541
542  {\large\bf
543   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
544  }
545
546  \includegraphics[width=6.3cm]{pc_si-c_c-c.eps}
547  \includegraphics[width=6.3cm]{pc_si-si.eps}
548
549  \vspace{-0.1cm}
550
551  \footnotesize
552  \underline{C-C, 0.15 nm}:\\
553  NN-Abstand in Graphit/Diamant\\
554  $\Rightarrow$ starke C-C Bindungen bei hohen Konz.\\
555  \underline{Si-C, 0.19 nm}:\\
556  NN-Abstand in 3C-SiC\\
557  \underline{C-C, 0.31 nm}:\\
558  C-C Abstand in 3C-SiC\\
559  verkettete, verschieden orientierte 100 C-Si DBs\\
560  \underline{Si-Si, $\sim$ 0.31 nm}:\\
561  g(r) erh"oht, Si-Si in 3C-SiC\\
562  Intervall entspricht C-C Peakbreite\\
563  Abfall bei regul"aren Abst"anden
564
565  \begin{picture}(0,0)(-175,-40)
566  \includegraphics[width=4.0cm]{conc_100_c-si-db_02.eps}
567  \end{picture}
568  \begin{picture}(0,0)(-278,-10)
569  \includegraphics[width=4.0cm]{conc_100_c-si-db_01.eps}
570  \end{picture}
571
572  \end{slide}
573
574  \begin{slide}
575
576  {\large\bf
577   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
578  }
579
580  \includegraphics[width=6.3cm]{pc_si-c_c-c.eps}
581  \includegraphics[width=6.3cm]{c_in_si_100.ps}
582
583  \footnotesize
584  
585  \underline{Niedrige C-Konzentration ($V_1$)}:
586  100 Dumbbell-Konfiguration\\
587  dehnt Si-Si NN-Abstand auf 0.3 nm\\
588  Beitrag zum Si-C Peak bei 0.19 nm\\
589  erkl"art weitere Si-C Peaks (gestrichelte Linien)\\
590  $\Rightarrow$ C-Atome als erstes im erwarteten 3C-SiC-Abstand\\
591  \underline{Hohe C-Konzentration ($V_2$ und $V_3$)}:\\
592  Gro"se Anzahl an Defekten/Sch"adigung erzeugt\\
593  Fast nur kurzreichweitige Ordnung erkennbar\\
594  $\Rightarrow$ Bildung einer amorphen SiC-"ahnlichen Phase\\
595  $\Rightarrow$ T$\uparrow$ oder t$\uparrow$ f"ur Bildung von 3C-SiC
596
597  \begin{picture}(0,0)(-230,-15)
598  \includegraphics[width=5cm]{a-sic_pc.eps}
599  \end{picture}
600  \begin{picture}(0,0)(-240,-5)
601  \begin{minipage}{5cm}
602   {\scriptsize
603   PRB 66, 024106 (2002)\\[-4pt]
604   F. Gao und W. J. Weber
605   }
606  \end{minipage}
607  \end{picture}
608
609 \end{slide}
610
611  \begin{slide}
612
613  {\large\bf
614   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
615  }
616  
617  \footnotesize
618
619  Zusammenfassung und Problemstellung:
620  \begin{itemize}
621   \item keine 3C-SiC-Ausscheidungen
622   \item C-Konzentration niedrig:
623         \begin{itemize}
624          \item 100 Dumbbell gepr"agte Struktur\\
625                (entspricht Vermutungen aus IBS Untersuchungen)
626          \item keine Anh"aufung zu Embryos
627         \end{itemize}
628   \item C-Konzentration hoch:
629         \begin{itemize}
630          \item Ausbildung von C-C Bindungen
631                (IBS: C-"Uberdosis behindert C-Umverteilung)
632          \item amorphes SiC
633                (C-induzierte Amorphisierung ab einem T-abh"angigen
634                 Wert der Dosis)
635         \end{itemize}
636  \end{itemize}
637  \vspace{0.2cm}
638  {\color{blue} Ziel:}
639  \underline{
640  Bedingungen finden unter denen 3C-SiC-Ausscheidung stattfindet}\\[0.3cm]
641  Ans"atze:\\[0.2cm]
642  \begin{minipage}{7.5cm}
643  \begin{itemize}
644   \item H"ohere Temperaturen
645         \begin{itemize}
646          \item Temperaturen im Implantationsbereich h"oher
647          \item H"ohere T statt l"angerer Simulationszeit\\
648                Arrhenius-Gesetz $\rightarrow$ "Ubergangszeiten
649         \end{itemize}
650   \item Variation des Einf"ugevorgangs des Kohlenstoffs
651         \begin{itemize}
652          \item minimaler Abstand
653          \item Zeitpunkt, Geschwindigkeit (Dosisrate)
654         \end{itemize}
655  \end{itemize}
656  \end{minipage}
657  \begin{minipage}{5.1cm}
658  \begin{itemize}
659   \item Modifikation der\\
660         Kraft/Potentialberechnung
661         \begin{itemize}
662          \item C-C cut-off erh"ohen
663          \item Beitrag aus Ableitung von $f_{\text{C}}$ zur Kraft
664                weglassen
665          \\\\
666         \end{itemize}
667  \end{itemize} 
668  \end{minipage}
669
670 \end{slide}
671
672 \begin{slide}
673
674  {\large\bf
675   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
676  }
677
678  H"ohere Temperaturen - $V_1$-Simulationen\\
679  \includegraphics[width=6.3cm]{tot_ba.ps}
680  \includegraphics[width=6.3cm]{tot_pc.ps}
681  \small
682  \begin{minipage}{6.5cm}
683  \[
684  \text{\scriptsize Quality}
685   = \frac{\textrm{\scriptsize Anzahl C mit 4 Bindungen zu Si}}
686          {\textrm{\scriptsize Gesamtanzahl C}}
687  \]
688  \\
689  \underline{Si-C PCF}:\\
690  cut-off Artefakt nimmt ab mit T $\uparrow$\\
691  $2050 \, ^{\circ}\text{C}$ Si-C Peaks
692  $\rightarrow \text{C}_{\text{S}}$-Si Bindungen\\[0.2cm]
693  {\color{red} Problem: L"oslichkeit durch hohe T erh"oht}
694  \end{minipage}
695
696  \begin{picture}(0,0)(-175,-2)
697  \includegraphics[width=4.0cm]{cs-si_01.eps}
698  \end{picture}
699  \begin{picture}(0,0)(-278,16)
700  \includegraphics[width=4.0cm]{cs-si_02.eps}
701  \end{picture}
702
703 \end{slide}
704
705 \begin{slide}
706
707  {\large\bf
708   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
709  }
710
711  H"ohere Temperaturen - $V_2$-Simulationen\\
712  \includegraphics[width=6.2cm]{12_pc.ps}
713  \includegraphics[width=6.2cm]{12_ba.ps}
714  \includegraphics[width=6.2cm]{12_pc_c-c.ps}
715  \includegraphics[width=6.2cm]{12_ba_noa.ps}
716
717 \end{slide}
718
719 \begin{slide}
720
721  {\large\bf
722   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
723  }
724
725  H"ohere Temperaturen - Neuer Temperaturfahrplan\\[0.3cm]
726  \begin{itemize}
727   \item Einf"ugen der C-Atome bei $1650 \, ^{\circ} \text{C}$
728   \item Aufw"armen auf $2650 \, ^{\circ} \text{C}$
729   \item Temperatur f"ur 100 ps halten
730   \item Abk"uhlen auf $20 \, ^{\circ} \text{C}$
731  \end{itemize}
732  \vspace{0.2cm}
733  \includegraphics[width=6.3cm]{12_anneal_amod.ps}
734  \includegraphics[width=6.3cm]{12_amod_anneal.ps}
735
736 \end{slide}
737
738 \begin{slide}
739
740  {\large\bf
741   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
742  }
743
744  Variation des Einf"ugevorgangs des Kohlenstoffs
745
746  \scriptsize
747
748  \begin{minipage}{6.3cm}
749  \begin{center}
750  Kritischer Abstand 0.15 nm $\rightarrow$ 0.05 nm\\
751  \end{center}
752  \includegraphics[width=5.9cm]{1250_12_cr.ps}
753  \includegraphics[width=5.9cm]{1250_12_cr_ba.ps}
754  \end{minipage}
755  \begin{minipage}{6.3cm}
756  \begin{center}
757  Dosisrate: C auf einmal hinzugef"ugt\\
758  \end{center}
759  \includegraphics[width=5.9cm]{1250_12_notrelax_pc.ps}
760  \includegraphics[width=5.9cm]{1250_12_notrelax_ba.ps}
761  \end{minipage}
762
763 \end{slide}
764
765 \begin{slide}
766
767  {\large\bf
768   Simulationen zum Ausscheidungsvorgang
769  }
770
771  Modifikation der Kraft/Potentialberechnung
772
773  \underline{Erh"ohter C-C cut-off}
774  \begin{center}
775  \includegraphics[width=6.5cm]{12_pc_c-c_amod.ps}
776  \end{center}
777
778  \underline{Beitrag zur Kraft aus Ableitung von $f_{\text{C}}$ weglassen}
779  \begin{itemize}
780   \item System nicht mehr konservativ
781   \item Energie steigt trotz 'starker' T-Kontrolle
782  \end{itemize}
783  $\Rightarrow$ nicht geeignet f"ur Simulationen mit endlicher/hoher Temperatur
784
785 \end{slide}
786
787 \begin{slide}
788
789  {\large\bf
790   SiC-Ausscheidungen in Si
791  }
792
793  \begin{itemize}
794   \item $10\times10\times10$ Einheitszellen 3C-SiC
795   \item Zwei $8\times8\times8$ Einheitszellen Si unter- und oberhalb
796   \item "Aquilibrierung f"ur 2 ps
797   \item Einschalten der $T$- und $p$-Kontrolle
798         ($T=0\text{ K}$, $p=0\text{ bar}$)
799  \end{itemize}
800
801  \vspace*{0.1cm}
802
803  Relaxation: \href{../video/sd_sic_in_si_01.avi}{$\rhd$}\\
804  Spannungen: \href{../video/sd_sic_in_si_01_strain.avi}{$\rhd$} 
805
806  \vspace*{0.2cm}
807
808  \begin{minipage}{5cm}
809  Initial Konfiguration\\
810  \includegraphics[width=6cm]{sd_sic_in_si_strain_01.eps}
811  \end{minipage}
812  \begin{minipage}{1cm}
813  $\rightarrow$\\
814  \end{minipage}
815  \begin{minipage}{6cm}
816  Relaxierte Konfiguration\\
817  \includegraphics[width=6.4cm]{sd_sic_in_si_strain_02.eps}
818  \end{minipage}
819
820
821 \end{slide}
822
823 \end{document}
824